qFLASH-A

Ekonomiczny i Kompaktowy Automatyczny Optyczny System Pomiarowy 3D

qFLASH-A to  ekonomiczny i kompaktowy optyczny system pomiarowy 3D stworzony z myślą o   kontroli w niewielkich automatycznych celach pomiarowych na hali produkcyjnej Konfigurowalna z wieloma robotami przemysłowymi, włącznie z tymi charakteryzującymi się niewielką udźwigiem, oraz systemami robotów współpracujących cela pomiarowa, qFLASH-A zajmuje bardzo mało miejsca i stanowi  ekonomiczne rozwiązanie do automatycznego pozyskiwania danych pomiarowych dla wielu rodzajów części. System idealnie sprawdza się w środowisku hal produkcyjnych, gdzie przestrzeń jest szczególnie cenna, jednak najważniejsza jest wydajność.

Wytrzymała, ale lekka sonda qFLASH-A s łączy technologię obrazowania cyfrowego trzech kamer CMOS z niebieskim oświetleniem LED oraz technologią projekcji Dynamic Slide tworząc bardzo szybkie rozwiązanie do kontroli pomiarowej. Wykorzystuje technologię HFR (High Frame Rate — duża liczba klatek na sekundę) oraz funkcję WDR (Wide Dynamic Range) – rozszerzony zakres dynamiki. Dzięki nim możliwa jest szybka i dokładna digitalizacja powierzchni o dowolnych kształtach bez konieczności wcześniejszego przygotowania powierzchni lub stosowania markerów. Funkcja zaawansowanej analizy obrazu i wykrywania krawędzi zapewnia wyjątkowo dokładną kontrolę cech części, dzięki czemu użytkownicy mogą uzyskać chmury punktów zawierające duże ilości danych dla wielu mierzonych elementów. 

Dzięki qFLASH-A projekcja i pozyskiwanie obrazu trwa zaledwie milisekundy, zapewniając ochronę systemu przed wpływem drgań występujących na hali produkcyjnej bądź też zmianami światła otoczenia oraz  umożliwiając dokładne i szybkie pozyskiwanie danych w każdych warunkach. To sprawia, że automatyczny system pomiarowy qFLASH-A idealnie sprawdza się podczas kontroli na hali produkcyjnej, oszczędzając czas i wysiłek związany z transportem części do pomiarów.

qFLASH-A  jest certyfikowany zgodnie z normą VDI/VDE i standardowo sprzedawany jest z oprogramowaniem pomiarowym CoreView.
 

q-FLASH-A

O Tobie
O Twojej firmie
Kompaktowa i Lekka Konstrukcja
Kompaktowa i lekka konstrukcja qFLASH-A wraz z niewielką ,wynoszącą zaledwie 500 mm odległością pomiarową, sprawiają, że sonda jest idealnie przystosowana do pracy z małymi robotami w niewielkich celach pomiarowych.

Dokładność i Powtarzalność
Zintegrowane kamery CMOS zapewniają sondzie qFLASH-A  technologię HFR (duża liczba klatek na sekundę)  oraz funkcję WDR (rozszerzony zakres dynamiki), zapewniając dokładność, wysokiej jakości rekonstrukcję powierzchni oraz wysoki stosunek sygnału do szumu, również w niedoświetlonym lub prześwietlonym obszarze. 

Zaawansowane Możliwości Pomiarowe 
Zintegrowane mapowanie chmury punktów 3D oraz technologie 2D systemu qFLASH-A wykorzystują funkcję analizy obrazu i wykrywania krawędzi, zapewniając dokładną kontrolę cechy dla różnorodnych zastosowań.

Bez konieczności przygotowania powierzchni
Sonda qFLASH-A pozyskuje dokładne dane chmur punktów bez konieczności przygotowania powierzchni lub zastosowania markerów, redukując liczbę czynności manualnych w procesie i umożliwiając automatycznemu systemowi przeprowadzanie pomiarów bez przerw, maksymalnie zwiększając wydajność.

Przystosowanie na hale produkcyjne
Wytrzymała konstrukcja sondy qFLASH-A idealnie sprawdza się w środowisku niewielkich hal produkcyjnych. Projekcja i pozyskiwanie obrazu trwające zaledwie milisekundy zapewniają ochronę przed zmianami światła otoczenia oraz wpływem drgań występujących na hali produkcyjnej wywoływanych przez ciężki sprzęt.

Wyniki w Czasie Rzeczywistym
System qFLASH-A wprowadza automatyczne pomiary na hale produkcyjne. Oprogramowanie pomiarowe CoreView oraz inne opcjonalne narzędzia analityczne dostępne w trybie offline w czasie rzeczywistym przekazują wyniki kontroli kierownikom i inżynierom, umożliwiając wykorzystanie danych pomiarowych w całych zakładach.
 
Kamery
3 kamery cyfrowe o rozdzielczości 4.2 megapikseli przeznaczone do zastosowań przemysłowych. Zamocowane na stabilnej termicznie wytrzymałej obudowie z włókna węglowego.

Technologia Oświetlania i Rekonstrukcji 3D 
Oświetlanie światłem białym i Technologia Szybkich Zdjęć Stereowizyjnych.
Wbudowana technologia 2D i 3D w celu uzyskania szybkich i dokładnych pomiarów powierzchni oraz cech charakterystycznych.

Oświetlenie
Oświetlenie oparte na niebieskich diodach świecących LED zapewniające niezawodność oraz wytrzymałość.

Opcje Pola Pomiarowego
Pole widzenia (na określonej odległości roboczej): 350 x350 x160 mm /13.8 x13.8x 6.3 in
Pole widzenia (na określonej odległości roboczej): 170 x170 x55 mm /6.7x6.7x2.2 in
Optymalna odległość robocza: 550 mm / 22.7 in
Gęstość Chmury Punktów: od 0.09 [mm]

Działanie przemysłowe
Osiągi określone w 2 sigma, pole obrazowania, (qFLASH-A), stosowane jest zewnętrzne mapowanie.

Dokładność pomiaru płaszczyzny (pojedyncze zdjęcie): 0,035 mm
Dokładność chmury punktów (element o wymiarach; 3 x 2 x 1 m): 0,1 mm
Dokładność środka otworów płaskich (element o wymiarach 3 x 2 x 1 m): 0,15 mm

Wydajność operacyjna
Optyczny czas ekspozycji (standardowe ustawienia): 10 m/sek.

Wymiary i Waga
Sonda qFLASH-A: 370 x 270 x 255 mm /14.6 x 10.6 x 10 in
6.0 kg / 13.2 lb
qFLASH-A Zasilanie: 310 x 215 x 60 mm / 12.2 x 8.5 x 2.4 in
3 kg / 6.6 lb

Kompatybilność Elektryczna 
Napięcie: 230 VAC 50-60Hz
Pobór mocy: Średnie zużycie do 100W
0,7 kW – szczytowe zużycie

Robocze Warunki Środowiskowe
Temperatura pracy: 5-35 °C
(Ograniczona przez specyfikacje PC. Można to poprawić za pomocą układów chłodzących.)
Robocze warunki oświetleniowe: Niska wrażliwość na oświetlenie przemysłowe, źródła światła z otoczenia i niebezpośrednie światło dzienne.
Drgania konstrukcji / budynku: Przeznaczony do pracy w środowisku przemysłowym.

Okresowa Certyfikacja Systemu
Coroczna kalibracja i certyfikacja na miejscu przy użyciu identyfikowalnych wzorców.

Komputer i Oprogramowanie
System operacyjny: Windows 7, 10 64Bit OS
Platforma obliczeniowa: Komputer stacjonarny PC
Oprogramowanie systemu: CoreView™ Hexagon Manufacturing Intelligence

Certyfikaty i Normy 
CE / TÜV: IEC\EN 61010-1:2001 EMC: IEC\EN 61000

Norma VDI/VDE 2634 Część 2 dla optycznych systemów pomiarowych 

Identyfikowalność do efektów instrumentalnych normy metrologicznej NIST - ISO 9001:2000

HxGN LIVE

HxGN LIVE - coroczna międzynarodowa konferencja organizowana przez grupę Hexagon - to szansa, aby wziąć udział w inspirujących prezentacjach, nawiązać nieograniczone...