착색 백색광 센서(CWS)

착색 백색광 센서(CWS)

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착색 백색광 센서(CWS)는 효율성이 매우 높은 스캐닝 센서입니다. 이 센서는 초점을 공유하는 측정 원리를 기반으로 하며 착색 깊이 스캐닝을 사용하여 작업을 합니다. 이 기술은 거리 측정을 수행하기 위하여 파장에 따라 차별적으로 백색광을 굴절시키는 특수 렌즈를 사용합니다. 따라서 시스템의 분해능은 검사하는 파트의 표면으로부터 반사되는 빛의 세기에 따라 달라집니다.

CWS는 거울이나 유리 등과 같이 반사율이 높은 측정 대상이나 매트의 검은 표면과 같이 빛을 흡수하는 측정 대상에 대해서는 매우 높은 측정 효율을 보입니다. 
CWS는 특히 모든 종류의 자유형상을 갖는 표면을 디지털화 하는데 적합합니다. 또한 유리나 렌즈의 두께를 측정하거나 미세한 구조물의 위상(位相)을 캡쳐하는데 사용되기도 합니다 
CWS의 수직 분해능은 10 nm 이상이며 스캐닝 비율은 초당 1000 포인트 이상입니다.

착색 백색광 센서는 다음과 같은 애플리케이션을 위한 이상적인 측정 솔루션입니다:

  • 미세 구조물의 기하학적 위상 포착 
  • 유리나 연마된 금속과 같이 광택이 있는 표면의 디지털화 
  • 투명한 재질을 갖는 제품의 디지털화

CWS의 애플리케이션의 예: 

  • 마이크로 렌즈(극소 사진 촬영용 렌즈) 
  • 구형 그리드 배열(BGA: Ball Grid Array) 
  • 집적회로(IC: Integrated circuits) 
  • 의료용 임플란트
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  • 초점을 공유하는 측정 원리를 사용하므로 매우 까다로운 측정도 할 수 있습니다.
  • 측정 범위 300 µm로부터 10 mm까지
  • 작업 거리 4.5 mm로부터 75 mm까지
  • 분해능 10 nm 이상
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