MICRA

MICRA – 최고의 성능을 가진 미니 CMM

MICRA는 크기는 작지만 정밀도가 높은 부품의 품질 검사를 위해 개발된 3차원 측정기(CMM)입니다. MICRA는 정밀한 표면 및 윤곽 스캐닝을 통하여 높은 정밀도와 정확한 싱글 포인트 검사를 조합시킨 측정기입니다. 소형의 하이테크 스캐닝 프로브 시스템인 HP-S-X1C이 MICRA의 개발 근거를 마련해 주었습니다. 이 빼어난 정밀도를 자랑하는 3D 프로빙 시스템으로 무장한 MICRA는 싱글 포인트 검사와 표면 스캐닝 기능을 기본적인 특장점으로 하고 있습니다.

초소형 기계부품이나 복잡한 표면을 갖는 표면 등을 측정하기 위하여 개발된 MICRA는 콤팩트 한 크기와 탁월한 측정 정밀도, 그리고 유연성이 이상적으로 조합된 측정기입니다.
의 브리지형 CMM 기술과 의 HP-S-X1C 스캐닝 센서가 완벽한 조화를 이루는 MICRA는 여러 면을 갖는 파트의 싱글 포인트 프로빙 및 윤곽과 복잡한 형상에 대한 연속적인 고속 스캐닝 모두에 이상적인 다기능 측정 툴입니다

더불어 MICRA는 접지면이 작아 빠르고 유연성 있게 운반할 수 있습니다. 견고성이 보강되도록 특수하게 설계된 경합금 프레임은, TRICISION® 구조를 사용하여 Y축을 가로지르는 특허 받은 입구 구조와 조합되어 견고성과 중량이라는 두 마리 토끼를 동시 잡는 결과를 가져 올 수 있었습니다. 이 방법을 사용하여 최고의 정밀도와 탁월한 장기 안정성을 실현했습니다.

CAD를 기반으로 하는 구성 정보를 사용하거나 또는 복잡하고 어려운 형상 측정 등에 무관하게 PC-DMIS 또는 QUINDOS 소프트웨어로 무장한 MICRA는 작은 부품 측정에 있어서 예술의 경지에 오른 품질 검사를 할 수 있습니다.

MICRA는 다음과 같은 애플리케이션에 특별히 적합한 측정기입니다;
  • 정밀 기계 및 광학 산업
  • 전자 및 통신 관련 부품
  • 의료 기술 엔지니어링
  • 시계 제조
  • 구동 관련 제품
당신에 대해
회사에 대해
  • 중량과 견고성이 최적화로 조화된 특허 받은 TRICISION® 구조의 프레임.
  • 측정 범위: 500 x 400 x 300 mm.
  • 고정밀도의 HP-S-X1C 스캐닝 프로브 시스템.
  • 정교한 표면 검사를 위한 저압 프로빙 모드.
  • 작은 접지면 및 탄탄한 구조.
  • 운반이 용이함.
  • 높은 정밀도.

모델

X Stroke 행정

Y Stroke 행정

Z Stroke 행정

정밀도 (µm)

4.5.3

400

500

300

= 1.0 + L/400EMPE

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