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ホワイトライトスキャナー WLS qFLASHがGOOD DESIGN™ Awards 2015の工業部門賞に
2016年2月2日ヘキサゴン・メトロジー株式会社は画像測定システムWLS qFLASHがアメリカ・シカゴのアテニウム建築設計ミュージアムによるグッドデザイン賞を受賞したことを発表致します。
このグッドデザイン賞は1950年に始まり、毎年世界中から選ばれた革新的工業製品やグラフィックデザインに贈られる最も伝統のある格式高い国際的な賞となります。今回WLS qFLASHは工業デザイン部門において最高評価を獲得しました。この賞への応募条件は一般市場向けに2年以上製造されている製品とされ、工業スペシャリストやデザインプレス等の設計業界のプロの審査員により革新的な設計、新技術、形状、素材、機能等の観点から厳正に審査されます。
今回受賞したWLS qFLASHは非接触式ショップフロア(製造現場)向けの画像測定システムで、ポータブル式三次元測定の為進化した青色LED高輝度イルミネーションライトを採用しました。本体は耐久性の高いカーボン製、カメラヘッドはコンパクトかつ軽量にデザインされ、広さに制約のある作業現場においても操作の簡易性に優れています。また振動、工業ライトや温度などの変化に適応します。WLS qFLASHは特にスタンピング(圧縮成形)工場等の使用条件の厳しい環境において小~中型サイズのワークの測定を可能にしました。またWLS qFLASHのステレオビジョン技術は平均10ミリ秒以下で画像取得を実現し、反復測定ワークフローを可能にしました。光沢面を含む測定物もそのまま測定でき、検査効率のレベル向上に大きく貢献します。
「我々はWLS qFLASHおよびその最先端のブルーライト技術が2015年グッドデザイン賞を受賞できたことを非常に光栄に思っております。」と本製品の設計を行った弊社イスラエル法人ジェネラルマネージャーNathan Perskyは述べています。「この賞に際しフォーチュン500社、さらに海外の主要メーカーとのコンペティションがありましたが、設計部門でランクインすることは大きな挑戦でした。この賞によってWLS qFLASHはコンパクトで軽量な操作性と価格のバランスに優れた製品パッケージであると認定されました。それは今日の工業測定マーケットへダイナミックなソリューションを提供できるということなのです。」
Hexagon Manufacturing Intelligence
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