qFLASH-A

Un système de mesure optique 3D automatique, économique et compact

qFLASH-A est un système de mesure optique 3D compact et économique conçu pour être utilisé dans des petites cellules d'inspection automatiques dans les ateliers de production. Compatibles avec de nombreux robots industriels, y compris des robots de petites charges et collaboratifs, les cellules de mesure qFLASH-A se caractérisent par un faible encombrement et sont un moyen abordable pour automatiser la collecte de données dimensionnelles de tout type de pièce. Le système est idéal pour les environnements de production où l'espace est limité, mais où la productivité joue un rôle important.

À la fois léger et robuste, le capteur qFLASH-A combine la technologie de traitement d'images numérique de trois caméras CMOS avec un éclairage LED bleu et une technologie de projection dynamique de modèle pour créer des inspections de haute vitesse. Sa fréquence de prise de vue élevée et sa grande plage dynamique assurent une numérisation rapide et précise de pièces de forme quelconque sans traitement ou préparation de surface et sans utilisation de marqueurs. Les caractéristiques des pièces sont également capturées avec précision grâce à des moteurs avancés d'analyse d'image et de détection des contours, ce qui permet aux utilisateurs d'obtenir des données nuage de points de haute résolution pour une large gamme de pièces. 


Avec qFLASH-A, la projection et l'acquisition d'images s’effectuent en quelques millisecondes, protégeant le système des effets de vibrations ou des variations de lumière ambiante dans l'atelier et garantit des résultats de haute qualité dans toutes les conditions. Ces caractéristiques rendent le système de mesure automatique qFLASH-A idéal pour des applications dans l'environnement de production, en réduisant le temps et les coûts de traitement puisqu'il n'est pas nécessaire de transporter les pièces ailleurs pour les mesures.

qFLASH-A est certifié conforme aux normes VDI/VDE et fourni de série avec le logiciel de métrologie CoreView.
 

q-FLASH-A

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Conception compacte et légère
La conception compacte et légère de qFLASH-A, associée à une distance de mesure de seulement 500 mm, en fait un outil parfait en combinaison avec de petits robots et des cellules de mesure de faible encombrement.

Précision et répétabilité
Les caméras CMOS intégrées donnent à qFLASH-A une fréquence d'image élevée et une large plage dynamique, assurant des résultats précis, une excellente reconstruction de surface et un rapport signal/bruit élevé - même dans les zones sous-exposées et surexposées de l'image. 

Mesure avancée de caractéristique 
Les fonctions de traitement de nuages de points 3D et les technologies 2D intégrées utilisent des fonctions d'analyse d'images et de détection de bords pour une mesure de surface et de caractéristiques précise dans un grand domaine d'application.

Pas de traitement de surface nécessaire
Le capteur qFLASH-A peut acquérir des données précises de nuage de points sans qu'il soit nécessaire de préparer ou traiter la surface ou d'utiliser des marqueurs, ce qui permet de gagner du temps et de laisser le système automatique de réaliser des mesures continues pour une productivité maximale.

Prêt pour l'atelier
La construction robuste du qFLASH-A convient parfaitement aux conditions difficiles en atelier, alors que sa capacité de projeter et d'acquérir des images en quelques millisecondes le rend insensible aux variations de lumière ambiante et aux effets des vibrations provoquées par des équipements lourds.

Résultats en temps réel
Le système qFLASH-A apporte la masure automatisée en atleier. Le logiciel de métrologie CoreView et d'autres outils d'analyse optionnels hors ligne intégrés facilitent l'utilisation des données mesurées à l'échelle de l'entreprise grâce à la transmission en temps réel des résultats aux responsables et gestionnaires.
 
Caméras
3 caméras numériques de 4,2 mégapixels conçues pour des applications industrielles. Boîtier en fibre de carbone rigide à température stable.

Technologie de projection et de reconstruction 3D
Technologie avancée de projection de modèle et de vision stéréo à impulsion rapide
Technologie 2D et 3D intégrée pour une mesure rapide et précise de surfaces et de caractéristiques.

Éclairage
Éclairage LED bleu de haute puissance, fiable et à longue durée d'utilisation.

Tailles du champ de mesure
Champ de vision (à la distance frontale indiquée) : 350 x 350 x 160 mm/13,8 x 13,8 x 6,3 in
Champ de vision (à la distance frontale indiquée) : 170 x 170 x 55 mm/6,7 x 6,7 x 2,2 in
Distance frontale optimale : 550 mm / 22,7 in
Espacement des nuages de points : À partir de 0,09 [mm]

Performances industrielles
Valeurs exprimées en 2 sigma, LFOV, moyenne/moyenne. (qFLASH-A), 
correspondance externe utilisée.

Précision de mesure à plat (mosaïque unique) : 0,035 mm
Précision des nuages de points (dimensions de l'objet : 3 x 2 x 1 m) : 0,1 mm
Précision des centres de trous plans (dimensions de l'objet : 3 x 2 x 1 m) : 0,15 mm

Performances d'utilisation
Temps d'exposition optique (paramètres standard) : 10 m/s

Dimensions et poids
Capteur qFLASH-A : 370 x 270 x 255mm/14,6 x 10,6 x 10 in
6,0 kg – 13,2 lb
Alimentation électrique qFLASH-A : 310 x 215 x 60 mm / 12,2 x 8,5 x 2,4 in
3 kg – 6,6 lb

Compatibilité électrique
Tension : 90-230 VCA 50-60Hz
Alimentation électrique : Consommation moyenne jusqu'à 100 W
Consommation maximale 0,7 kW

Environnement de travail
Température de service : 5-35 °C
(limitée par les caractéristiques de l'ordinateur. Peut être étendue à l'aide de systèmes de refroidissement.)
Conditions d'éclairage pour l'utilisation : faible sensibilité à l'éclairage industriel, aux sources de lumière ambiante et à tout éclairage artificiel.
Vibrations des structures/installations : système conçu pour une utilisation dans des environnements industriels.

Certification système périodique
Certification et étalonnage annuels sur place à l'aide d'artefacts traçables

Ordinateur et logiciel
Système d'exploitation : Windows 7,10 64 bits
Plateforme informatique : PC de bureau
Logiciel système : CoreView™ d'Hexagon Manufacturing Intelligence

Certifications et normes
CE/TÜV - Sécurité : CEI\EN 61010-1:2001 CEM : CEI\EN 61000

Norme VDI/VDE 2634 partie 2 pour systèmes de mesure optique

Traçabilité des artefacts de métrologie NIST standard ISO 9001:2000

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