Inspire: palpado y escaneo

Escaneo palpado

Inspire ofrece modos adaptables de medición que reducen la interacción con el software, de tal forma que los usuarios pueden pasar más tiempo midiendo y menos tiempo navegando a través del software. Los datos de palpado y los datos de nubes escaneadas se miden y se manejan básicamente de la misma forma para simplificar operaciones de análisis posterior. Estas son ventajas exclusivas para ambos métodos de obtención de datos e Inspire ha creado un flujo de trabajo unificado en tanto que también resalta las ventajas específicas de cada método.

ComparaciónPara instrumentos que ofrecen capacidades de palpado y escaneo, Inspire brinda transiciones sencillas entre la obtención de cada tipo de datos, a menudo con solo requerir un cambio de interruptor en el instrumento o un gesto unívoco para comenzar el cambio de modos de adquisición de la medición. Las interfaces de medición para escaneo y palpado son casi idénticas en su apariencia y funcionalidad.

La eficiencia se mejora ya que no existen módulos separados para mover su proyecto al trabajar con diferentes tipos de datos. Las operaciones de medición y análisis para los datos de escaneo y palpado se pueden llevar a cabo en la misma instancia de Inspire, lo que ayuda a crear un flujo de trabajo sencillo y de fácil uso.