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コンパクトホワイトライト測定システム
The WLS qFLASH は、測定物にランダムパターンを投影しステレオ画像を使用し表面、形状、エッジラインを分析します。ヘキサゴンメトロジー自社開発によるCoreView 3D 測定スイートと組み合わせることでWLS qFLASHは幅広い用途に最適なツールです。
ショップフロア環境対応の最先端テクノロジー:Hexagon Metrology WLS qFLASHは、産業光、機械振動、温度変化による影響を受けません。固定台座、手持ちでの操作が可能です。WLS qFLASHは予算に制限があるような場合でもあってもスマートな高性能をご提供可能です。
Hexagon Metrology WLS qFLASH 技術仕様
カメラ | 産業用途用3 x 4.2 メガピクセルデジタルカメラ、 剛性が高く温度変化の少ないカーボンボディー。 |
投射 & 3D 再構築テクノロジー | ランダムパターン光の投影による高速撮影立体画像テクノロジー 素早く正確な表面形状測定のための2D&3Dテクノロジー |
照明 | 青色LEDベースの高性能照明。高信頼性と耐久性 |
FOV仕様 | Numbers stated in 2 sigma, LFOV, avg to avg. (WLS qFLASH-CMM) 視野 (特定作業距離で): 350 X 350 mm 被写界深度: 160 mm 最良作業距離: 550 mm 点群間隔: 0.19 mmより |
測定性能 | |
VDI / VDE 2634 Part 2 | System MPE according to VDI / VDE 2634 Part 2 (350 X 350 mm FOV lens, RE mode); 準拠; 産業用途 プロビンーグ誤差: 0.040 mm 空間誤差: 0.035 mm 平面度誤差 Error: 0.035 mm |
工業パーフォーマンンス | Numbers stated in 2 sigma, LFOV, avg to avg. (WLS qFLASH-CMM), external mapping is used 平面測定精度 (シングルタイル): 0.035 mm WLS qFLASH P点群精度 (3 x 2 x 1 m サイズ対象物: 0.1 mm) |
操作性能 | 平均光学露出時間 (通常設定): 20 msec |
寸法と質量 | WLS qFLASH センサー 370 X 270 X 255 mm, 6.0 kg WLS qFLASH 電源 310 X 215 X 60mm, 3 kg |
電気適合 | 電圧: 90-230 VAC 50-60 Hz 電力: 0.7 kW – ピーク時 |
作業環境条件 | 操作温度: 5 - 35°C (PC/ラップトップで制限、冷却装置付で向上可能 操作照明条件:産業ライト 、環境ライト、間接日光に低感度. 構造/機器の振動: 産業環境用に設計. |
定期的システム認証 | 追跡可能加工製品に対する現場での年一回キャリブレーションと認証 |
コンピュータ&ソフトウェア | 操作システム: Windows 7 64Bit OS コンピューティングプラットフォーム: ラップトップ システムソフトウェア:ヘキサゴンメトロジー製 CoreView™ |
認証 & 規準 | CE / TÜV –安全性: IEC\EN 61010-1:2001 EMC: IEC\EN 61000 VDI/VDE 2634 Part 2 光学測定システム用基準、 NIST測定標準製品ISO 9001:2000に対する追跡性能 |
Hexagon Manufacturing Intelligence
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