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コンパクトホワイトライト測定システム
場所を選ばず測定可能： Hexagon Metrology WLS qFLASH は、素早い3D測定とレポートを作成により、測定したその場でデジタル化が可能です。頑丈で軽量、簡単操作。三脚使用、手持ちによる操作が可能で、場所を選ばず現場で測定、分析が可能。
WLS qFLASHは下記のような業界への最適ソリューションです
- 自動車のサプライヤー
- OEM 航空宇宙サプライヤー
- プラスチック部品製造業者
- 電子部品製造業者
The WLS qFLASH は、測定物にランダムパターンを投影しステレオ画像を使用し表面、形状、エッジラインを分析します。ヘキサゴンメトロジー自社開発によるCoreView 3D 測定スイートと組み合わせることでWLS qFLASHは幅広い用途に最適なツールです。
- 板金部品の測定
- 密閉部分の検査
- アルミと鋳金の測定
- プラスチック部品、インテリア、小物金型
クイック&高輝度 FLASH
ショップフロア環境対応の最先端テクノロジー：Hexagon Metrology WLS qFLASHは、産業光、機械振動、温度変化による影響を受けません。固定台座、手持ちでの操作が可能です。WLS qFLASHは予算に制限があるような場合でもあってもスマートな高性能をご提供可能です。
- パワフルPCプラットフォームによる素早い分析とレポート
- 持ち運びを可能なコンパクト電源
- フレキシブル台座、ハンドヘルド操作
- 短距離で350 x 350 mm の視野を持ち小物部品の測定に最適
- CoreView ソフトウェア: 直感的操作可能な自社製作ソフトウェア ホワイトライト専用 測定、分析用ソフト
- ひとりで持ち運び可能なワンボックス収納システム
- 堅牢なカーボンファイバー製のオプティカルボディー
- ベストな3Dデータを保証する3台のデジタルカメラ
- 高信頼性のためのAdvanced Blue LEDテクノロジー
Hexagon Metrology WLS qFLASH 技術仕様
| カメラ | 産業用途用3 x 4.2 メガピクセルデジタルカメラ、 剛性が高く温度変化の少ないカーボンボディー。 |
| 投射 & 3D 再構築テクノロジー | ランダムパターン光の投影による高速撮影立体画像テクノロジー 素早く正確な表面形状測定のための2D&3Dテクノロジー |
| 照明 | 青色LEDベースの高性能照明。高信頼性と耐久性 |
| FOV仕様 | Numbers stated in 2 sigma, LFOV, avg to avg. (WLS qFLASH-CMM) 視野 (特定作業距離で): 350 X 350 mm 被写界深度: 160 mm 最良作業距離: 550 mm 点群間隔: 0.19 mmより |
| 測定性能 | |
| VDI / VDE 2634 Part 2 | System MPE according to VDI / VDE 2634 Part 2 (350 X 350 mm FOV lens, RE mode); 準拠; 産業用途 プロビンーグ誤差: 0.040 mm 空間誤差: 0.035 mm 平面度誤差 Error: 0.035 mm |
| 工業パーフォーマンンス | Numbers stated in 2 sigma, LFOV, avg to avg. (WLS qFLASH-CMM), external mapping is used 平面測定精度 (シングルタイル): 0.035 mm WLS qFLASH P点群精度 (3 x 2 x 1 m サイズ対象物: 0.1 mm) |
| 操作性能 | 平均光学露出時間 (通常設定): 20 msec |
| 寸法と質量 | WLS qFLASH センサー 370 X 270 X 255 mm, 6.0 kg WLS qFLASH 電源 310 X 215 X 60mm, 3 kg |
| 電気適合 | 電圧: 90-230 VAC 50-60 Hz 電力: 0.7 kW – ピーク時 |
| 作業環境条件 | 操作温度: 5 - 35°C (PC/ラップトップで制限、冷却装置付で向上可能 操作照明条件：産業ライト 、環境ライト、間接日光に低感度. 構造/機器の振動: 産業環境用に設計. |
| 定期的システム認証 | 追跡可能加工製品に対する現場での年一回キャリブレーションと認証 |
| コンピュータ＆ソフトウェア | 操作システム: Windows 7 64Bit OS コンピューティングプラットフォーム: ラップトップ システムソフトウェア:ヘキサゴンメトロジー製 CoreView™ |
| 認証 & 規準 | CE / TÜV –安全性: IEC\EN 61010-1:2001 EMC: IEC\EN 61000 VDI/VDE 2634 Part 2 光学測定システム用基準、 NIST測定標準製品ISO 9001:2000に対する追跡性能 |
問い合わせ先
Hexagon Manufacturing Intelligence
ヘキサゴン・メトロジー株式会社（本社）
〒252-0132 神奈川県相模原市緑区橋本台
1-15-8
Sagamihara-shi (Kanagawa-Ken)
Japan
T: +81 42 700 3500
F: +81 42 700 3511