WLS qFLASH

コンパクトホワイトライト測定システム

WLSqFLASH-M
場所を選ばず測定可能:  Hexagon Metrology WLS qFLASH は、素早い3D測定とレポートを作成により、測定したその場でデジタル化が可能です。頑丈で軽量、簡単操作。三脚使用、手持ちによる操作が可能で、場所を選ばず現場で測定、分析が可能。
WLS qFLASHは下記のような業界への最適ソリューションです
  • 自動車のサプライヤー
  • OEM 航空宇宙サプライヤー
  • プラスチック部品製造業者
  • 電子部品製造業者

The WLS qFLASH は、測定物にランダムパターンを投影しステレオ画像を使用し表面、形状、エッジラインを分析します。ヘキサゴンメトロジー自社開発によるCoreView 3D 測定スイートと組み合わせることでWLS qFLASHは幅広い用途に最適なツールです。

  • 板金部品の測定 
  • 密閉部分の検査
  • アルミと鋳金の測定
  • プラスチック部品、インテリア、小物金型
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クイック&高輝度 FLASH

ショップフロア環境対応の最先端テクノロジー:Hexagon Metrology WLS qFLASHは、産業光、機械振動、温度変化による影響を受けません。固定台座、手持ちでの操作が可能です。WLS qFLASHは予算に制限があるような場合でもあってもスマートな高性能をご提供可能です。

  • パワフルPCプラットフォームによる素早い分析とレポート
  • 持ち運びを可能なコンパクト電源
  • フレキシブル台座、ハンドヘルド操作
  • 短距離で350 x 350 mm の視野を持ち小物部品の測定に最適
  • CoreView ソフトウェア: 直感的操作可能な自社製作ソフトウェア ホワイトライト専用 測定、分析用ソフト
  • ひとりで持ち運び可能なワンボックス収納システム
  • 堅牢なカーボンファイバー製のオプティカルボディー
  • ベストな3Dデータを保証する3台のデジタルカメラ
  • 高信頼性のためのAdvanced Blue LEDテクノロジー

Hexagon Metrology WLS qFLASH 技術仕様

カメラ 産業用途用3 x 4.2 メガピクセルデジタルカメラ、
剛性が高く温度変化の少ないカーボンボディー。
投射 & 3D 再構築テクノロジー ランダムパターン光の投影による高速撮影立体画像テクノロジー
素早く正確な表面形状測定のための2D&3Dテクノロジー
照明 青色LEDベースの高性能照明。高信頼性と耐久性
FOV仕様 Numbers stated in 2 sigma, LFOV, avg to avg. (WLS qFLASH-CMM)
視野 (特定作業距離で): 350 X 350 mm 
被写界深度: 160 mm 
最良作業距離: 550 mm 
点群間隔: 0.19 mmより
測定性能
VDI / VDE 2634 Part 2 System MPE according to VDI / VDE 2634 Part 2 (350 X 350 mm FOV lens, RE mode); 準拠; 産業用途 
プロビンーグ誤差: 0.040 mm 
空間誤差: 0.035 mm 
平面度誤差 Error: 0.035 mm
 工業パーフォーマンンス Numbers stated in 2 sigma, LFOV, avg to avg. (WLS qFLASH-CMM), 
external mapping is used 
平面測定精度 (シングルタイル): 0.035 mm 
WLS qFLASH P点群精度 (3 x 2 x 1 m サイズ対象物: 0.1 mm)
操作性能 平均光学露出時間 (通常設定): 20 msec
寸法と質量 WLS qFLASH センサー
370 X 270 X 255 mm, 6.0 kg 
WLS qFLASH 電源
310 X 215 X 60mm, 3 kg
電気適合 電圧: 90-230 VAC 50-60 Hz 
電力: 0.7 kW – ピーク時
作業環境条件 操作温度: 5 - 35°C (PC/ラップトップで制限、冷却装置付で向上可能
操作照明条件:産業ライト 、環境ライト、間接日光に低感度. 
構造/機器の振動: 産業環境用に設計.
定期的システム認証 追跡可能加工製品に対する現場での年一回キャリブレーションと認証
コンピュータ&ソフトウェア 操作システム: Windows 7 64Bit OS 
コンピューティングプラットフォーム: ラップトップ 
システムソフトウェア:ヘキサゴンメトロジー製 CoreView™
認証 & 規準 CE / TÜV –安全性: IEC\EN 61010-1:2001 EMC: IEC\EN 61000 VDI/VDE 2634 Part 2 光学測定システム用基準、 NIST測定標準製品ISO 9001:2000に対する追跡性能
WLS qFLASH Brochure
CoreView Software Downloads

HxGN LIVE

年に一度開催されるヘキサゴン国際会議HxGN LIVEで革新的なキーノート、世界中に広がるネットワーク、必見の最新テクノロジー等をご体感下さい