拡張用PPRETEC LRによりCMM用の光学検査能力を強化

ヘキサゴンメトロジーがホワイトライトセンサーに非接触粗さ計測機能を追加

2015年3月4日

ヘキサゴンメトロジーは高精度三次元測定機(CMM)用の非接触のPPRECITEC LRソリューションを発表。光学センサーによる幅広い種類の部品の粗さ計測がになりました。

最も難易度の高いワークでも正確な検査結果を実現すべく開発されたPRECITEC LRは、焦束されたホワイトライトを使用し、特にサブミクロンレベルの高精度での測定が可能です。大きな受容角度と高方位分解能が特色で、傾斜、曲線、非球面の表面や分散、反射タイプの材質の複雑な部品検査を可能としています。

ヘキサゴンメトロジー製品のLeitz PMM-C, Leitz Ultra および Leitz Infinityで利用可能。PRECITEC LRは、測定プログラム内で接触センサーとの自動交換可能です。接触プローブと同様の操作が可能で測定範囲も同じため、最短のオペレータートレーニングで使用可能です。

「PRECITEC LRはシステムと素早く簡単に統合でき、CMMの測定能力を著しく強化する用途の広い光学センサーです」とヘキサゴンメトロジーのプロダクトマネジャー、ミカ・ネイニンジャー氏は語る。 「極めて小さなスポット径が非接触測定によるの光学粗さ計測を可能とし、壊れやすく可鍛性を持ち、接触検査ができないような部品に対し表面変化のチェックを可能にしました。」と説明した。

PRECITEC LRは新しいLeitz PMM-C, Leitz Ultraや Leitz Infinityで選択していただくか、後付けのオプションとして発注可能です。粗差計測はQUINDOS粗さソフトウェアモジュールが必要です。

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